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半导体材料类标准规范免费下载

YS/T 1167-2016 硅单晶腐蚀片

中标分类号（ICS）: H82国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 YS 有色金属

现行
YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

中标分类号（ICS）: H12国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 YS 有色金属

现行
SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法

中标分类号（ICS）: H80国标分类号（CCS）: 29.049

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子 电子

现行
SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

中标分类号（ICS）: H82国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法

中标分类号（ICS）: H82国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11499-2015 碳化硅单晶电学性能的测试方法

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11505-2015 蓝宝石单晶抛光片规范

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行