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半导体材料类标准规范免费下载

SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法

中标分类号（ICS）: H82国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

中标分类号（ICS）: H82国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法

中标分类号（ICS）: H82国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南

中标分类号（ICS）: H82国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行
SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

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现行
SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法

中标分类号（ICS）: H83国标分类号（CCS）: 29.045

标准分类 电气工程 半导体材料 SJ 电子

现行