SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
SJ/T 11492-2015
行业标准 推荐性标准SJ/T 11492-2015标准状态
- 发布于:2015-04-30
- 实施于:2015-10-01
- 废止
内容简介
行业标准《光致发光法测定磷镓砷晶片的组分》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了采用光致发光测试系统对表面经过处理的磷镓砷(GaAP)晶片组分进行测试的方法。本标准适用于气相外延生长的,光致发光峰(λ)在640nm~670nm范围内时,对应磷的摩尔分数为36%到42%的n型GaAP晶片。
起草单位
信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国科学院半导体研究所、苏州晶瑞化学有限公司、天津中环领先材料技术有限公司
起草人
李静、金鹏、何秀坤
相近标准
HG/T 4211-2011 工业用三氯氧磷 砷含量的测定 砷斑法
DB53/T 551-2014 铁矿石中铁、磷、砷、锰、铅含量的测定
SN/T 4567-2016 工业黄磷中磷、砷的测定 能量色散X射线荧光光谱法
SN/T 4243-2015 铜精矿中金、银、铂、钯、砷、汞、镉、镓、铟、锗、硒、碲、铊、镧的测定 电感耦合等离子体质谱法
GB/T 5009.161-2003 动物性食品中有机磷农药多组分残留量的测定
SN/T 2697-2010 进出口煤炭中硫、磷、砷和氯的测定 X射线荧光光谱法
SN/T 1793-2006 黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷的测定 波长色散X射线荧光光谱法
EJ/T 1119-2000 六氟化铀中砷的测试方法--胂的生成--原子吸收光谱法测定
JB/T 7520.3-1994 磷铜钎料化学分析方法 钡钼酸光度法测定磷量
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。