YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
YS/T 1160-2016
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标准YS/T 1160-2016标准状态
- 发布于:2016-07-11
- 实施于:2017-01-01
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内容简介
行业标准《工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法》,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定,测定范围为≥1%。
起草单位
昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司
起草人
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