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集成电路、微电子学类标准规范免费下载

GB/T 43035-2023 半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求

中标分类号（ICS）: L57国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

现行
GB/T 43027-2023 高压电源变换器模块测试方法

中标分类号（ICS）: L55国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

现行
GB/T 43041-2023 混合集成电路直流/直流（DC/DC）变换器

中标分类号（ICS）: L57国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

现行
GB/T 43040-2023 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法

中标分类号（ICS）: L55国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

即将实施
GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

中标分类号（ICS）: L54国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

现行
GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法

中标分类号（ICS）: L55国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

即将实施
GB/T 42972-2023 微波电路检波器测试方法

中标分类号（ICS）: L55国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

现行
GB/T 42970-2023 半导体集成电路视频编解码电路测试方法

中标分类号（ICS）: L56国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

现行
GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法

中标分类号（ICS）: L56国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

现行
GB/T 42975-2023 半导体集成电路驱动器测试方法

中标分类号（ICS）: L56国标分类号（CCS）: 31.200

标准分类 电子学 集成电路、微电子学

现行