GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法
Displacement damage test method for components
GB/T 42969-2023
国家标准 推荐性
收藏
报错
标准GB/T 42969-2023标准状态
- 发布于：2023-09-07
- 实施于：2024-01-01
- 废止
内容简介
国家标准《元器件位移损伤试验方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD)、光电A合器、图像敏感器（APS)，光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
起草单位
中国空间技术研究院、西北核技术研究院、中国科学院新疆理化技术研究所、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、中国电子科技集团公司第四十四研究所、扬州大学、
起草人
罗磊、 于庆奎、 张洪伟、 郑春、 汪朝敏、 李豫东、 唐民、朱恒静、陈伟、丁李利、文林、薛玉雄、
相近标准
FZ/T 01032-2012 织物及制品缝纫损伤的试验方法
JB/T 4291-1999 焊接接头裂纹张开位移(COD)试验方法
HB 8619-2021 航空用聚合物基复合材料落锤冲击损伤阻抗试验方法
JT/T 974-2015 公路工程土工合成材料 机械损伤试验方法
JB/T 10080.2-2011 光栅线位移测量系统 第2部分：光栅线位移传感器
GB/T 27821-2011 化学品 细菌DNA损伤或修复试验方法
HB 8620-2021 航空用聚合物基复合材料层合板集中准静态压痕力损伤阻抗试验方法
JB/T 7574-2013 机械产品及元器件湿热环境大气暴露试验方法和导则
JB/T 7575-2013 机械产品及元器件寒冷环境大气暴露试验方法和导则
JB/T 8683-1998 机械产品及元器件海洋环境大气暴露试验方法 导则
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。