GB/T 43035-2023 半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination
GB/T 43035-2023
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标准GB/T 43035-2023标准状态
- 发布于：2023-09-07
- 实施于：2023-09-07
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内容简介
国家标准《半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路（FICs和HFICs，以下简称器件）内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。
起草单位
中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院、
起草人
王婷婷、 呂红杰、 李林森、 雷剑、 冯玲玲、王琪、张亚娟、
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