SJ/Z 9016-1987 半导体器件 机械和气候试验方法

内容简介

本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。注：非空腔器件是指在器件设计中的封装材料与所有管芯的暴露表面紧密接触且没有任何空间的器件。本标准已尽可能考虑了SJ/Z9001-87(IEC68号)标准--基本环境试验规程。

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SJ/Z9094.13-1987地面无线电接力系统所用设备的测量方法第三部分：仿真系统第四章频分多路复用传输的测量
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