GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
GB/T 4937.12-2018
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标准GB/T 4937.12-2018标准状态
- 发布于：2018-09-17
- 实施于：2019-01-01
- 废止
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、
起草人
迟雷、 彭浩、 崔波、 高金环、 岳振鹏、李树杰、裴选、张艳杰、
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