GB/T 42968.8-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8: Measurement of radiated immunity—IC stripline method

GB/T 42968.8-2023

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标准GB/T 42968.8-2023标准状态

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  • 标准名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法
  • 标准号:GB/T 42968.8-2023
  • 发布日期:2023-09-07
  • 实施日期:2024-01-01
  • 中国标准号:L56
  • 国际标准号:31.200
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国集成电路标准化技术委员会
  • 主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件描述了集成电路(IC)对150kHz~3GHz频率范围内的射频(RF)辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、北京无线电计量测试研究所、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国合格评定国家认可中心、东南大学、广东省科学院电子电器研究所、联想(北京)有限公司、中国电力科学研究院有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、浙江诺益科技有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、中国家用电器研究院、北京芯可鉴科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、青岛金汇源电子有限公司、西安优来测科技有限公司、广州致远电子有限公司、

起草人

付君、 崔强、 吴建飞、 乔彦彬、 杨红波、 李楠、 白云、 张艳艳、 刘佳、 陈燕宁、 黄雪梅、 郑泓、 刘易勇、 贺伟、 方文啸、刘小军、郑益民、叶畅、刘星汛、梁吉明、朱赛、靳冬、邵鄂、周香、李德鹏、吕飞燕、陈勇志、陈梅双、

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