GB/T 43034.3-2023 集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3: Non-synchronous transient injection method
GB/T 43034.3-2023
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标准GB/T 43034.3-2023标准状态
- 发布于：2023-09-07
- 实施于：2024-01-01
- 废止
内容简介
国家标准《集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了集成电路（IC）对标准传导电瞬态骚扰的抗扰度测量方法。与受试器件（DUT）运行不同步的骚扰通过耦合网络施加给IC引脚。不管电瞬态骚扰是否在IC规定的工作电压范围之内，本方法都能够得到传导电瞬态骚扰和其引起的IC性能降级之间的相互关系并对其进行分类。
起草单位
中国电子技术标准化研究院、广州市诚臻电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、广州市轰锐电子有限公司、中国合格评定国家认可中心、北京无线电计量测试研究所、北京芯可鉴科技有限公司、南京信息工程大学、苏州泰思特电子科技有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、江苏省电子信息产品质量监督检验研究院（江苏省信息安全测评中心）、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、重庆邮电大学、中国家用电器研究院、广州广电计量检测股份有限公司、安徽省计量科学研究院、
起草人
付君、 崔强、 乔彦彬、 朱赛、 郑益民、 曾敏雄、 刘佳、 杨红波、 梁吉明、 陈燕宁、 万发雨、 张红升、 李旸、 朱崇铭、 陈梅双、 吴建飞、李楠、方文啸、叶畅、刘小军、靳冬、刘星汛、唐元贵、白云、褚瑞、胡小军、亓新、陈嘉声、王少启、
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