GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
GB/T 43226-2023
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标准GB/T 43226-2023标准状态
- 发布于：2023-09-07
- 实施于：2024-01-01
- 废止
内容简介
国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
起草单位
北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院、
起草人
赵元富、 陈雷、 郑宏超、 李哲、 陈淼、 王汉宁、 王亮、岳素格、林建京、李永峰、
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