GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
GB/T 42848-2023
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标准GB/T 42848-2023标准状态
- 发布于：2023-08-06
- 实施于：2023-12-01
- 废止
内容简介
国家标准《半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
起草单位
成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、
起草人
何善亮、 蒲佳、 范超、 吴淼、 杨阳、刘纪祖、王可、李锟、
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