GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
GB/T 42838-2023
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标准GB/T 42838-2023标准状态
- 发布于：2023-08-06
- 实施于：2023-12-01
- 废止
内容简介
国家标准《半导体集成电路 霍尔电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
起草单位
中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所、
起草人
尹航、 刘芳、 张帆、 刘德广、 何万海、唐食明、
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