GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays

GB/T 17444-1998

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标准GB/T 17444-1998标准状态

发布于：1998-07-30
实施于：1999-05-01
废止

标准详情

标准名称：红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
标准号：GB/T 17444-1998
发布日期：1998-07-30
实施日期：1999-05-01
中国标准号：L52
国际标准号：31.260
代替标准：被GB/T 17444-2013代替
技术归口：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学光电子学、激光设备

内容简介

国家标准《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照（以下简称辐照）的光敏元阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所、

起草人

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