GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage regulator

GB/T 4377-1996

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  • 标准名称:半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
  • 标准号:GB/T 4377-1996
  • 发布日期:1996-07-09
  • 实施日期:1997-01-01
  • 中国标准号:L56
  • 国际标准号:31.200
  • 代替标准:代替GB 4377-1984被GB/T 4377-2018代替
  • 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了半导体集成电路电压调整器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试,不适用于双端(单端口)器件。

起草单位

北京半导体器件五厂、

起草人

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