GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits

GB/T 14620-1993

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标准GB/T 14620-1993标准状态

发布于：1993-09-03
实施于：1993-12-01
废止

标准详情

标准名称：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
标准号：GB/T 14620-1993
发布日期：1993-09-03
实施日期：1993-12-01
中国标准号：L32
国际标准号：31.200
代替标准：被GB/T 14620-2013代替
技术归口：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片（以下简称基片）。

起草单位

国营七九九厂、

起草人

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