GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits

GB/T 14028-1992

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标准详情

  • 标准名称:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
  • 标准号:GB/T 14028-1992
  • 发布日期:1992-12-17
  • 实施日期:1993-08-01
  • 中国标准号:L55
  • 国际标准号:31.200
  • 代替标准:被GB/T 14028-2018代替
  • 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下简称器件或模拟开关)电参数测试的基本原理。

起草单位

上海元件五厂、

起草人

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