标准详情
- 标准名称：GaN毫米波前端芯片测试方法
- 标准号：T/CASAS 030-2023
- 发布日期：2023-06-30
- 实施日期：2023-07-01
- 中国标准号：C398
- 国际标准号：31.080.01
- 团体名称：北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
- 标准分类：C 制造业
T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法
T/CASAS 030-2023
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标准T/CASAS 030-2023标准状态
- 发布于：2023-06-30
- 实施于：2023-07-01
- 废止
内容简介
T/CASAS030—2023《GaN毫米波前端芯片测试方法》描述了GaN毫米波前端芯片的术语、定义、测试条件、测试要求和测试方法，结合了近几年科研人员在毫米波氮化镓前端芯片领域的研发、测试评估以及应用方面的经验总结，对毫米波氮化镓前端芯片性能指标的测试方法进行了详细的规定，包括且不限于测试目的、测试环境、测试方法及步骤、测试工具及仪表等。
起草单位
中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。
起草人
周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏。
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