T/CSTM 00032-2020 铈掺杂硅酸钇镥闪烁晶体阵列
T/CSTM 00032-2020
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标准T/CSTM 00032-2020标准状态
- 发布于：2020-08-03
- 实施于：2020-11-03
- 废止
内容简介
本标准规定了铈掺杂硅酸钇镥闪烁晶体阵列的术语和定义、产品标记、技术要求、检测方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存等
本标准适用于X射线、γ射线及带电粒子探测用铈掺杂硅酸钇镥闪烁晶体阵列
起草单位
中国科学院上海硅酸盐研究所、东软医疗系统股份有限公司、华中科技大学、明峰医疗系统股份有限公司、上海硅酸盐研究所中试基地、南开大学、中国计量大学、西北核技术研究所、中国科学技术大学、同济大学、中国科学院福建物质结构研究所、南京光宝光电科技有限公司、南京航空航天大学、上海交通大学、中国科学院高能物理研究所、上海骋翰光学精密机械有限公司、中国电子科技集团第26研究所、中国科学院长春应用化学研究所
起草人
丁栋舟、秦超、吴泓澍、万博、陈露、赵书文、梁国栋、谢庆国、肖鹏、江浩川、秦海明、侯伟、施俊杰、袁兰英、任国浩、杨帆、秦来顺、史宏声、袁晖、段宝军、张云龙、刘波、郑熠、吴少凡、曹顿华、赫崇君、胡洁、张志明、李铮、吴永庆、陈俊锋、王东、宋桂兰、佘建军、丁雨憧、王佳、薛冬峰、孙丛婷
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