标准详情
- 标准名称：硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
- 标准号：SJ 966-1975
- 发布日期：1976-06-01
- 实施日期：2010-02-25
- 中国标准号：L40
- 国际标准号：31.080
- 代替标准：
- 技术归口：
- 主管部门：第四机械工业部
- 标准分类：电子学半导体分立器件SJ 电子电子元器件与信息技术半导体二极管
SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 966-1975
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标准SJ 966-1975标准状态
- 发布于：1976-06-01
- 实施于：2010-02-25
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内容简介
本标准适用于硅开关二极管反向击穿电压的测试。测试反向击穿电压总的要求应符合SJ962-75.
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