标准详情
- 标准名称：半绝缘砷化镓中ＥＬ２浓度的红外吸收测试方法
- 标准号：SJ 3249.4-1989
- 发布日期：2010-02-25
- 实施日期：1989-03-25
- 中国标准号：H80
- 国际标准号：29.045
- 代替标准：
- 技术归口：
- 主管部门：
- 标准分类：电气工程综合SJ 电子标准化管理与一般规定技术管理
SJ 3249.4-1989 半绝缘砷化镓中ＥＬ２浓度的红外吸收测试方法
SJ 3249.4-1989
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标准SJ 3249.4-1989标准状态
- 发布于：2010-02-25
- 实施于：1989-03-25
- 废止
内容简介
本标准规定了半绝缘砷化镓中深施主浓度EI2的红外吸收测量原理、仪器设备、测量步骤、结果计算和精度。本标准适用于非掺杂半绝缘砷化镓中EI2浓度的测定，适用于试样厚度2～4mm。不适于测量掺铬半绝缘样品中的EL2浓度。
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起草人
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