标准详情
- 标准名称：半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法
- 标准号：SJ 3249.1-1989
- 发布日期：1989-03-20
- 实施日期：1989-03-25
- 中国标准号：H80
- 国际标准号：29.045
- 代替标准：
- 技术归口：
- 主管部门：
- 标准分类：电气工程综合SJ 电子标准化管理与一般规定技术管理
SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法
SJ 3249.1-1989
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标准SJ 3249.1-1989标准状态
- 发布于：1989-03-20
- 实施于：1989-03-25
- 废止
内容简介
本标准规定了半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料电阻率的测量原量，仪器设备，测量步骤，计算方法。本标准适用于室温电阻率为10^(6)～10^(8)Ω·cm均匀的砷化镓和磷化铟体单品半绝缘材料、电阻率在10^(4)～10^(5)Ω·cm时也可参照使用。
起草单位
起草人
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