SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法

SJ 2354.10-1983

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  • 标准名称:PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
  • 标准号:SJ 2354.10-1983
  • 发布日期:1983-08-15
  • 实施日期:1984-07-01
  • 中国标准号:L50
  • 国际标准号:31.260
  • 代替标准:被SJ/T 2354-2015代替
  • 技术归口:
  • 主管部门:
  • 标准分类:电子学能源SJ 电子技术管理核技术核技术综合

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