SJ 2354.14-1983 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法

SJ 2354.14-1983

行业标准强制性

收藏报错

标准SJ 2354.14-1983标准状态

发布于：1983-08-15
实施于：1984-07-01
废止

标准详情

标准名称：雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
标准号：SJ 2354.14-1983
发布日期：1983-08-15
实施日期：1984-07-01
中国标准号：L50
国际标准号：31.260
代替标准：被SJ/T 2354-2015代替
技术归口：
主管部门：
标准分类：电子学能源 SJ 电子技术管理核技术核技术综合

内容简介

起草单位

起草人

相近标准

SJ2354.3-1983ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
SJ2354.4-1983ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
SJ2354.5-1983ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法
SJ2354.6-1983ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法
SJ2354.7-1983ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
SJ2354.8-1983ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ2354.9-1983ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
SJ2355.1-1983半导体发光器件测试方法总则
SJ2355.2-1983半导体发光器件测试方法正向压降的测试方法
SJ2355.3-1983半导体发光器件测试方法反向电流的测试方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。