SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法

SJ 2354.9-1983

行业标准强制性

收藏报错

标准SJ 2354.9-1983标准状态

发布于：1983-08-15
实施于：1984-07-01
废止

标准详情

标准名称：PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
标准号：SJ 2354.9-1983
发布日期：1983-08-15
实施日期：1984-07-01
中国标准号：L50
国际标准号：31.260
代替标准：被SJ/T 2354-2015代替
技术归口：
主管部门：
标准分类：电子学能源 SJ 电子技术管理核技术核技术综合

内容简介

起草单位

起草人

相近标准

SJ2355.2-1983半导体发光器件测试方法正向压降的测试方法
SJ2355.3-1983半导体发光器件测试方法反向电流的测试方法
SJ2355.4-1983半导体发光器件测试方法结电容的测试方法
SJ2355.5-1983半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法
SJ2355.6-1983半导体发光器件测试方法光通量的测试方法
SJ2355.7-1983半导体发光器件测试方法发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
SJ2356-1983３ＣＤ３４７型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
SJ2357-1983３ＣＤ１４９、３ＣＤ１５０、３ＣＤ３４９型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
SJ2358-1983３ＣＤ１５１、３ＣＤ１５２、３ＣＤ３５１型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
SJ2359-1983３ＣＤ１５３、３ＣＤ１５４、３ＣＤ３５３型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。