SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法.正向压降的测试方法

SJ 2355.2-1983

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标准SJ 2355.2-1983标准状态

发布于：1983-08-15
实施于：1984-07-01
废止

标准详情

标准名称：半导体发光器件测试方法.正向压降的测试方法
标准号：SJ 2355.2-1983
发布日期：1983-08-15
实施日期：1984-07-01
中国标准号：L50
国际标准号：31.260
代替标准：被SJ/T 11394-2009代替
技术归口：
主管部门：
标准分类：电子学能源 SJ 电子技术管理核技术核技术综合

内容简介

起草单位

起草人

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