SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法

SJ 2214.7-1982

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  • 标准名称:半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
  • 标准号:SJ 2214.7-1982
  • 发布日期:1982-11-30
  • 实施日期:1983-07-01
  • 中国标准号:L50
  • 国际标准号:31.260
  • 代替标准:被SJ/T 2214-2015代替
  • 技术归口:
  • 主管部门:
  • 标准分类:电子学SJ 电子通信广播技术管理广播综合

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