SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则
SJ 2215.1-1982
行业标准 强制性
收藏
报错
标准SJ 2215.1-1982标准状态
- 发布于：1982-11-30
- 实施于：1983-07-01
- 废止
内容简介
起草单位
起草人
相近标准
SJ2215.11-1982半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
SJ2215.12-1982半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
SJ2215.13-1982半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
SJ2215.14-1982半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
SJ2215.2-1982半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法
SJ2215.3-1982半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法
SJ2215.4-1982半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法
SJ2215.5-1982半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
SJ2215.6-1982半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
SJ2215.7-1982半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。