SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法
SJ 2215.3-1982
行业标准 强制性
收藏
报错
标准SJ 2215.3-1982标准状态
- 发布于:1982-11-30
- 实施于:1983-07-01
- 废止
内容简介
起草单位
起草人
相近标准
SJ2215.5-1982半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
SJ2215.6-1982半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法
SJ2215.7-1982半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
SJ2215.8-1982半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
SJ2215.9-1982半导体光耦合器(三极管)反向截止电流的测试方法
SJ2216-1982硅光敏二极管
SJ2217-1982硅光敏三极管
SJ2218-1982半导体光敏二极管型光耦合器
SJ2219-1982半导体光敏三极管型光耦合器
SJ2220-1982半导体达林顿型光耦合器
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。