SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法

SJ 2215.8-1982

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标准SJ 2215.8-1982标准状态

发布于：1982-11-30
实施于：1983-07-01
废止

标准详情

标准名称：半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
标准号：SJ 2215.8-1982
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
中国标准号：L50
国际标准号：31.260
代替标准：被SJ/T 2215-2015代替
技术归口：
主管部门：
标准分类：电子学 SJ 电子通信广播技术管理广播综合

内容简介

起草单位

起草人

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