SJ 2029-1982 可见光光敏电阻器总技术条件
SJ 2029-1982
行业标准 强制性
收藏
报错
标准SJ 2029-1982标准状态
- 发布于:1982-09-01
- 实施于:2010-02-25
- 废止
内容简介
起草单位
起草人
相近标准
SJ2031-1982MG24型密封硫化镉光敏电阻器
SJ2214.1-1982半导体光敏管测试方法总则
SJ2214.10-1982半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
SJ2214.2-1982半导体光敏二极管正向压降的测试方法
SJ2214.3-1982半导体光敏二极管暗电流的测试方法
SJ2214.4-1982半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
SJ2214.5-1982半导体光敏二极管结电容的测试方法
SJ2214.6-1982半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
SJ2214.7-1982半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
SJ2214.8-1982半导体光敏三极管暗电流的测试方法
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。