标准详情
- 标准名称:四探针测试仪完好要求和检查评定方法
- 标准号:SJ/T 31122-1994
- 发布日期:2010-02-25
- 实施日期:1997-01-01
- 中国标准号:L95
- 国际标准号:31-550
- 代替标准:
- 技术归口:
- 主管部门:
- 标准分类:电子学SJ 电子电子元器件与信息技术电子测量与仪器通用电子测量仪器设备及系统
本标准规定了JD41-5/ZM型四探针测试仪的完好要求和检查、评定方法。本标准只适用于D41-5/ZM型四探针测试仪。
YD/T503-1991B9264kbit/s相位抖动测试仪技术条件
YD/T517-1992微波中频综合测试仪技术条件
YD/T519-1992564992kbit/s误码测试技术条件
YD/T599-199220488448Kbit/s误码分析仪技术条件
YD/T615-1993642048844834368kbit/s相位抖动测试仪技术条件
YD/T618-1993139264kbit/s误码测试仪技术条件
YD/T621-19932048844834368139264kbit/s相位抖动分析仪技术条件
YD/T622-199334368kbit/s误码分析仪技术条件
YD/T623-1993139264kbit/s误码分析仪技术条件
YD/T714-1994用户模拟呼叫测试仪
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。