SJ/T 10737-1996 半导体集成电路 ECL电路测试方法的基本原理

SJ/T 10737-1996

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  • 标准名称:半导体集成电路 ECL电路测试方法的基本原理
  • 标准号:SJ/T 10737-1996
  • 发布日期:2010-02-25
  • 实施日期:1997-01-01
  • 中国标准号:L55
  • 国际标准号:31.200
  • 代替标准:代替GB 3441-1982
  • 技术归口:
  • 主管部门:
  • 标准分类:电子学SJ 电子化工技术管理化工综合

内容简介

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