SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
SJ/T 11767-2020
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标准SJ/T 11767-2020标准状态
- 发布于：2020-12-09
- 实施于：2021-04-01
- 废止
内容简介
行业标准《二极管低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了二极管1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。
起草单位
起草人
余永涛、胡为、恩云飞
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