SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
SJ/T 11632-2016
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标准SJ/T 11632-2016标准状态
- 发布于:2016-04-05
- 实施于:2016-09-01
- 废止
内容简介
行业标准《太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)微裂纹缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试,也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前,需由供需双方协商。
起草单位
中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、浙江精功科技股份有限公司、峨嵋半导体材料研究所
起草人
熊伟、贺东江、卫国军
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