SJ/T 11577-2016 SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南
SJ/T 11577-2016
行业标准 推荐性
收藏
报错
标准SJ/T 11577-2016标准状态
- 发布于：2016-01-15
- 实施于：2016-06-01
- 废止
内容简介
行业标准《SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了SJ/T11394—2009《半导体发光二极管测试方法》在实际测量过程中的技术细节。
起草单位
广州赛西光电标准检测研究院有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草人
周钢、牟同升、赵英
相近标准
SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
SJ/T 11400-2009 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范
SJ/T 11397-2009 半导体发光二极管用萤光粉
SJ/T 11401-2009 半导体发光二极管产品系列型谱
SJ/T 11398-2009 功率半导体发光二极管芯片技术规范
SJ/T 11393-2009 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
SJ/T 11281-2017 发光二极管(LED)显示屏测试方法
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。