JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法
JB/T 8268-2015
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标准JB/T 8268-2015标准状态
- 发布于：2015-04-30
- 实施于：2015-10-01
- 废止
内容简介
行业标准《静电复印光导体表面缺陷测量方法》，主管部门为机械行业。本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。
起草单位
天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备(常熟)有限公司、理光图像技术(上海)有限公司深圳分公司、湖北鼎龙化学股份有限公司、柯尼卡美能达(中国)投资有限公司、上海富士施乐有限公司、兄弟(中国)商业有限公司、东芝泰格信息系统(深圳)有限公司、佳能(中国)有限公司
起草人
刘慧玲、张希平、王强、刘生应、鲁丽平、陈挺、仇相如、麦洪琦、陈颂昌、鲁俊和
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