SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

SJ/T 2214-2015

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标准详情

  • 标准名称:半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
  • 标准号:SJ/T 2214-2015
  • 发布日期:2015-04-30
  • 实施日期:2015-10-01
  • 中国标准号:L54
  • 国际标准号:31.080
  • 代替标准:代替SJ 2214.5-1982;SJ 2214.6-1982;SJ 2214.7-1982;SJ 2214.8-1982;SJ 2214.9-1982;SJ 2214.10-1982;SJ 2214.1-1982;SJ 2214.2-19
  • 技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
  • 主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学半导体分立器件SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体光电二极管和光电晶体管测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称“器件”)光电参数的测试方法。本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。

起草单位

中国电子科技集团公司第四十四研究所

起草人

郭萍、王波、崔大键

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