SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

SJ/T 2214-2015

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标准SJ/T 2214-2015标准状态

发布于：2015-04-30
实施于：2015-10-01
废止

标准详情

标准名称：半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
标准号：SJ/T 2214-2015
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
中国标准号：L54
国际标准号：31.080
代替标准：代替SJ 2214.5-1982;SJ 2214.6-1982;SJ 2214.7-1982;SJ 2214.8-1982;SJ 2214.9-1982;SJ 2214.10-1982;SJ 2214.1-1982;SJ 2214.2-19
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
主管部门：工业和信息化部
标准分类：电子学半导体分立器件 SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体光电二极管和光电晶体管测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称“器件”)光电参数的测试方法。本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。

起草单位

中国电子科技集团公司第四十四研究所

起草人

郭萍、王波、崔大键

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