标准详情
- 标准名称:光栅角位移测量系统
- 标准号:JB/T 10034-2012
- 发布日期:2012-05-24
- 实施日期:2012-11-01
- 中国标准号:J42
- 国际标准号:17.040
- 代替标准:代替JB/T 10034-1999
- 技术归口:全国量具量仪标准化技术委员会
- 主管部门:工业和信息化部
- 标准分类:计量学和测量、物理现象测量仪器仪表长度和角度测量JB 机械
行业标准《光栅角位移测量系统》由全国量具量仪标准化技术委员会归口上报,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1"、0.2"、0.5"、1"、2"、5"和10",准确度等级为±0.25"级、±0.5"级、±1"级、±2"级、±5"级、±10"级和±20"级的光栅角位移测量系统(以下简称“测量系统”)。
四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所、长春禹衡光学有限公司、成都工具研究所、广州市诺信数字测控设备有限公司、廊坊开发区莱格光电仪器有限公司
谢拉堂、曹学东
JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统
JB/T 9942-1999 光栅角位移传感器
SN/T 0824-1999 出口光栅角位移传感器检验规程
JB/T 11499-2013 容栅角位移测量系统
JB/T 10080.1-2011 光栅线位移测量系统 第1部分:光栅数字显示仪表
JB/T 10080.2-2011 光栅线位移测量系统 第2部分:光栅线位移传感器
JB/T 10030-1999 光栅线位移测量系统
JB/T 10030-2012 光栅线位移测量装置
20214735-Z-491 纳米技术 光栅的描述、测量和尺寸质量参数
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。