JB/T 7776.4-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第4部分：苯芴酮分光光度法测定锡量
JB/T 7776.4-2008
行业标准 推荐性
收藏
报错
标准JB/T 7776.4-2008标准状态
- 发布于：2008-03-12
- 实施于：2008-09-01
- 废止
内容简介
行业标准《银氧化镉电触头材料化学分析方法 第4部分：苯芴酮分光光度法测定锡量》由全国电工合金标准化技术委员会归口上报，主管部门为国家发展和改革委员会。JB/T7776的本部分规定了银氧化镉电触头材料中锡量的测定方法。本部分适用于银氧化镉电触头材料中锡量的测定。测定范围：0.10%～0.50%.
起草单位
桂林电器科学研究所、上海电科电工材料有限公司、浙江天银电工合金技术有限公司
起草人
谢永忠、陆尧
相近标准
JB/T 7777.4-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第4部分：PAN分光光度法测定锌量
JB/T 7776.5-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第5部分：硫脲分光光度法测定铋量
JB/T 7776.7-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第7部分：铬天青S分光光度法测定铝量
YS/T 981.4-2014 高纯铟化学分析方法 锡量的测定 苯芴酮-溴代十六烷基三甲胺吸光光度法
JB/T 7776.2-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第2部分：火焰原子吸收光谱法测定锌量
JB/T 7776.6-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第6部分：火焰原子吸收光谱法测定镁量
JB/T 7776.1-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第1部分：EDTA络合滴定法测定镉量
JB/T 7776.3-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第3部分：火焰原子吸收光谱法测定镍量
JB/T 7777.1-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定锡量
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。