YS/T 581.10-2006 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分：X射线荧光光谱分析法测定硫含量
YS/T 581.10-2006
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标准YS/T 581.10-2006标准状态
- 发布于：2006-03-07
- 实施于：2006-08-01
- 废止
内容简介
行业标准《氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分：X射线荧光光谱分析法测定硫含量》由全国有色金属标准化技术委员会归口上报，主管部门为国家发展和改革委员会。本部分规定了氟化铝中硫含量(以硫酸根表示)的测定方法。本部分适用于氟化铝中硫含量的测定。测定范围：0.01％～2.00％。
起草单位
抚顺铝厂、中国有色金属工业标准计量质量研究所
起草人
张爱芬、马慧侠
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