EJ/T 1184-2005 贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
EJ/T 1184-2005
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标准EJ/T 1184-2005标准状态
- 发布于：2005-04-11
- 实施于：2005-07-01
- 废止
内容简介
行业标准《贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定》由核工业标准化研究所归口上报，主管部门为国防科学技术工业委员会。本标准规定了分光光度法测定贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定，其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。当取祥量为0.25g四氟化铀时，硅的测定范围为：(10～120)μg/g。在测量范围内，40μg磷、3μg耐不干扰硅的测定。
起草单位
国营八一四厂
起草人
彭元明、蒋敬平
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