标准详情
- 标准名称：X射线晶体定向仪 技术条件
- 标准号：JB/T 5482-2004
- 发布日期：2004-06-17
- 实施日期：2004-11-01
- 中国标准号：N33
- 国际标准号：17.180
- 代替标准：代替JB/T 5482-1991被JB/T 5482-2011代替
- 技术归口：全国试验机标准化技术委员会;辽宁仪表研究所
- 主管部门：国家发展和改革委员会
- 标准分类：计量学和测量、物理现象光学和光学测量有关光学和光学测量的其他标准JB 机械
JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
JB/T 5482-2004
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标准JB/T 5482-2004标准状态
- 发布于：2004-06-17
- 实施于：2004-11-01
- 废止
内容简介
行业标准《X射线晶体定向仪 技术条件》由北京分析仪器研究所归口上报，主管部门为国家发展和改革委员会。本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪(以下简称定向仪)的要求，试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于各种单晶、双晶衍射型定向仪。
起草单位
丹东市东方晶体仪器有限公司、辽宁仪表研究所、丹东射线仪器(集团)股份有限公司、丹东市晶体仪器厂、丹东市新正定向仪器有限公司、丹东市七宝电器设备制造厂
起草人
赵久、刘海燕
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