标准详情
- 标准名称：微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
- 标准号：GB/T 20726-2015
- 发布日期：2015-10-09
- 实施日期：2016-09-01
- 中国标准号：G04
- 国际标准号：71.040.99
- 代替标准：代替GB/T 20726-2006
- 技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：化工技术分析化学有关分析化学的其他标准
GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
GB/T 20726-2015
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标准GB/T 20726-2015标准状态
- 发布于：2015-10-09
- 实施于：2016-09-01
- 废止
内容简介
国家标准《微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X-射线能谱仪（EDS）特性最重要的性能参数。本标准仅适用基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309和 ASTM E1508 中已有规范，不在本标准范围之内。
起草单位
中国科学院地质与地球物理研究所、
起草人
曾荣树、 徐文东、 毛骞、马玉光、
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