GB/T 43885-2024 碳化硅外延片
Silicon carbide epitaxial wafers
GB/T 43885-2024
国家标准 推荐性
收藏
报错
标准GB/T 43885-2024标准状态
- 发布于：2024-04-25
- 实施于：2024-11-01
- 废止
内容简介
国家标准《 碳化硅外延片》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了碳化硅外延片的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输与贮存、随行文件和订货单内容。本文件适用于在导电型碳化硅衬底上，生长碳化硅同质外延层的外延片，产品用于制作碳化硅电力电子器件。
起草单位
南京国盛电子有限公司、上海天岳半导体材料有限公司、瀚天天成电子科技（厦门）股份有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、山西烁科晶体有限公司、安徽长飞先进半导体有限公司、上海合晶硅材料股份有限公司、杭州乾晶半导体有限公司、浙江晶睿电子科技有限公司、沈阳星光技术陶瓷有限公司、海迪科（南通）光电科技有限公司、连科半导体有限公司、广东天域半导体股份有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、ＴＣＬ环鑫半导体（天津）有限公司、南京盛鑫半导体材料有限公司、河北普兴电子科技股份有限公司、中电化合物半导体有限公司、江苏华兴激光科技有限公司、湖南三安半导体有限责任公司、宁波合盛新材料有限公司、深圳基本半导体有限公司、哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司、
起草人
李国鹏、 仇光寅、 李素青、 丁雄杰、 冯淦、 杨玉聪、 薛宏伟、 刘红超、 刘薇、 王岩、 陈浩、 袁肇耿、 汪之涵、 黄勤金、 和巍巍、 刘勇、骆红、舒天宇、佘宗静、王银海、侯晓蕊、金向军、尚海波、徐所成、李毕庆、周勋、刘长春、赵丽丽、胡动力、
相近标准
20220133-T-469 埋层硅外延片
GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法
GB/T 14139-2019 硅外延片
GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片
SJ/T 11470-2014 发光二极管外延片
GB/T 43493.1-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类
SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
GB/T 35310-2017 200mm硅外延片
GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片
GB/T 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。