标准详情
- 标准名称：微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
- 标准号：GB/T 43883-2024
- 发布日期：2024-04-25
- 实施日期：2024-11-01
- 中国标准号：N33
- 国际标准号：71.040.99
- 代替标准：
- 技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：化工技术分析化学有关分析化学的其他标准
GB/T 43883-2024 微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining the number density of nanoparticles in a metal
GB/T 43883-2024
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标准GB/T 43883-2024标准状态
- 发布于：2024-04-25
- 实施于：2024-11-01
- 废止
内容简介
国家标准《微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。
本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。
本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。
注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。
注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。
注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。
起草单位
中国航发北京航空材料研究院、牛津仪器科技(上海)有限公司、北京科技大学、
起草人
娄艳芝、 柳得橹、 徐宁安、
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