GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
GB/T 1553-1997
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标准GB/T 1553-1997标准状态
- 发布于：1997-06-03
- 实施于：1997-12-01
- 废止
内容简介
本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。 本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。
起草单位
峨嵋半导体材料厂
起草人
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