GB/T 22586-2008 高温超导薄膜微波表面电阻测试

Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film

GB/T 22586-2008

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标准GB/T 22586-2008标准状态

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标准详情

  • 标准名称:高温超导薄膜微波表面电阻测试
  • 标准号:GB/T 22586-2008
  • 发布日期:2008-12-15
  • 实施日期:2009-05-01
  • 中国标准号:H21
  • 国际标准号:77.040.99
  • 代替标准:被GB/T 22586-2018代替
  • 技术归口:全国超导标准化技术委员会
  • 主管部门:中国科学院
  • 标准分类:冶金金属材料试验金属材料的其他试验方法

内容简介

国家标准《高温超导薄膜微波表面电阻测试》由TC265(全国超导标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下Rs随温度的变化。本标准适用于表面电阻的测试范围如下:—频率: 8GHz

起草单位

电子科技大学、南京大学等、清华大学、

起草人

罗正祥、 刘宜平、 李宏成、

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