GB/T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量

Methods for chemical analysis of silicon metal - Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method

GB/T 14849.4-2008

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  • 标准名称:工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
  • 标准号:GB/T 14849.4-2008
  • 发布日期:2008-06-09
  • 实施日期:2008-12-01
  • 中国标准号:H17
  • 国际标准号:77.120.10
  • 代替标准:被GB/T 14849.4-2014代替
  • 技术归口:全国有色金属标准化技术委员会
  • 主管部门:中国有色金属工业协会
  • 标准分类:冶金有色金属铝和铝合金

内容简介

国家标准《工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量》由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口,TC243SC1(全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会)执行,主管部门为中国有色金属工业协会。
本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍含量的测定。

起草单位

中国铝业股份有限公司郑州研究院、中国有色金属工业标准计量质量研究所等、

起草人

李跃平、 石磊、 张树朝、

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